比利時(shí)Hammer-IMS 電池薄膜質(zhì)量檢測(cè)系統(tǒng)

比利時(shí)Hammer-IMS 電池薄膜質(zhì)量檢測(cè)系統(tǒng)，由赫爾納德國(guó)總部直接采購(gòu)，近30年進(jìn)口工業(yè)品經(jīng)驗(yàn),原裝產(chǎn)品,支持選型，為您提供一對(duì)一好的解決方案：貨期穩(wěn)定，快速報(bào)價(jià)，價(jià)格優(yōu)，設(shè)有8大辦事處提供相關(guān)售后服務(wù)。

公司簡(jiǎn)介：

Hammer-IMS是一家專(zhuān)門(mén)為各行業(yè)提供測(cè)量解決方案的科技公司，提供精確、可靠、高效的測(cè)量系統(tǒng)。

Hammer-IMS 電池薄膜質(zhì)量控制系統(tǒng)產(chǎn)品型號(hào)：

Edge-Vision-4.0-CURTAIN

Hammer-IMS 電池薄膜質(zhì)量控制系統(tǒng)Edge-Vision-4.0-CURTAIN產(chǎn)品介紹：

Hammer-IMS的Edge-Vision-4.0-CURTAIN機(jī)器視覺(jué)系統(tǒng)能夠以10微米的尺度檢測(cè)電池薄膜/電極涂層中的針孔和其他異常。利用3個(gè)12k分辨率的Basler賽車(chē)相機(jī)模塊，可以每125微秒對(duì)生產(chǎn)進(jìn)行一次掃描，以實(shí)現(xiàn)高質(zhì)量的掃描，使我們能夠更準(zhǔn)確地檢測(cè)到小至50x50微米的異常。

Edge-Vision-4.0-CURTAIN 利用三個(gè)圖像傳感器，每個(gè)攝像頭之間有 2.5 厘米的重疊區(qū)域。這使我們能夠?qū)⑷_(tái)攝像頭的圖像拼接成一幅完整的圖像，而不會(huì)丟失任何像素。該系統(tǒng)配備了高速Basler Racer線(xiàn)掃描相機(jī)，能夠以12k分辨率對(duì)材料進(jìn)行檢測(cè)，這種時(shí)間精確性確保了無(wú)縫拼接的相機(jī)畫(huà)面。

得益于Hammer-IMS的Connectivity軟件3.0，實(shí)時(shí)生產(chǎn)分析遵循簡(jiǎn)化流程：異常檢測(cè)、問(wèn)題分類(lèi)、計(jì)數(shù)/平均以進(jìn)行質(zhì)量評(píng)估，及根據(jù)結(jié)果采取行動(dòng)。PTP協(xié)議確保三路圖像傳感器信號(hào)的無(wú)縫集成，確保材料的每個(gè)部分都得到檢查。為了獲取不同缺陷的詳細(xì)視頻，每種缺陷都有標(biāo)簽，每個(gè)標(biāo)簽?zāi)軌蝻@示相關(guān)統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù)。

我們的Edge-Vision-4.0-CURTAIN照明系統(tǒng)在針孔和異常檢測(cè)中發(fā)揮了關(guān)鍵作用。300,000勒克斯的光照顯著減少或消除了陰影，確保物體表面均勻照明。此外，我們的高強(qiáng)度照明系統(tǒng)通過(guò)提供充足的照明，補(bǔ)充了Basler賽車(chē)相機(jī)的低曝光。這種組合將模糊降至低，產(chǎn)生清晰、銳利的圖像，對(duì)于準(zhǔn)確的異常檢測(cè)至關(guān)重要。

Hammer-IMS 電池薄膜質(zhì)量控制系統(tǒng)Edge-Vision-4.0-CURTAIN檢測(cè)類(lèi)別：

? 檢測(cè)到50x50微米的針孔和其他異常情況

? 邊緣到邊緣的材料表面分析

? 配備了專(zhuān)業(yè)的線(xiàn)掃描相機(jī)

? 與PTP多掃描同步

? 利用 Connectivity 軟件 3.0 進(jìn)行實(shí)時(shí)分析

? 光源系統(tǒng)，能夠發(fā)現(xiàn)即使是最小的表面異常。

Hammer-IMS 電池薄膜質(zhì)量控制系統(tǒng)Edge-Vision-4.0-CURTAIN優(yōu)勢(shì)：

? 小化像素離散化誤差

? 將連續(xù)數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換為數(shù)字形式

? 在材料在橫向移動(dòng)時(shí)能夠保持安全的邊距

? 具有高度可靠性

? 能夠?qū)崿F(xiàn)超高數(shù)據(jù)傳輸速率

? 高兼容性和簡(jiǎn)單的可升級(jí)性

? 檢測(cè)準(zhǔn)確

Hammer-IMS 電池薄膜質(zhì)量控制系統(tǒng)Edge-Vision-4.0-CURTAIN應(yīng)用

電池薄膜質(zhì)量控制